測(cè)試DDR接口信號(hào)質(zhì)量時(shí)，數(shù)據(jù)眼圖分析有助于揭示潛在的信號(hào)完整性問(wèn)題。許多信號(hào)完整性工程師都使用眼圖功能迅速測(cè)定DDR接口性能。一致性測(cè)試能夠根據(jù)JEDEC規(guī)范驗(yàn)證數(shù)據(jù)、地址、控制和時(shí)鐘信號(hào)組的信號(hào)特性，但無(wú)法靈活、迅速地調(diào)試信號(hào)完整性問(wèn)題。眼圖測(cè)試的主要挑戰(zhàn)包括需要分離讀/寫(xiě)周期，以及重疊數(shù)據(jù)突發(fā)的連續(xù)位，以便根據(jù)簡(jiǎn)單模板進(jìn)行測(cè)試。

      DDR3 一致性分析需要用到下述的設(shè)備：

（1）示波器（如 SDS7000A），要求帶寬 ≥ 2 GHz，并開(kāi)通一致性分析選件。

（2）有源差分探頭：有源差分探頭（如 SAP2500D 或 SAP5000D），要求帶寬大于 2 GHz，用于探測(cè)信號(hào)。

      一致性測(cè)試軟件

      DDR 一致性分析軟件是依據(jù) JEDEC 規(guī)范而推出的解決方案，該分析軟件可控制示波器自動(dòng)完成測(cè)試，圖形化操作指導(dǎo)簡(jiǎn)化了測(cè)量過(guò)程，可靈活配置測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試報(bào)告記錄了整個(gè)測(cè)量結(jié)果，包括測(cè)試數(shù)值及測(cè)試波形的截圖。一致性測(cè)試功能分為三大部分：測(cè)試項(xiàng)配置、結(jié)果查看、報(bào)告生成設(shè)置。

（1）測(cè)試項(xiàng)配置分為：設(shè)置、測(cè)試項(xiàng)選擇、配置、連接、啟動(dòng)測(cè)試、結(jié)果六個(gè)步驟。

（2）結(jié)果查看：測(cè)試完成后，會(huì)自動(dòng)進(jìn)入到測(cè)試結(jié)果界面，點(diǎn)擊某個(gè)具體的測(cè)試項(xiàng)，界面下方會(huì)對(duì)應(yīng)顯示該測(cè)試項(xiàng)的細(xì)節(jié)信息。可以單擊波形界放大波形，查看波形的細(xì)節(jié)信息，再次點(diǎn)擊放大后的波形，可以返回到該界面。點(diǎn)擊右側(cè)的結(jié)果查看，可以退出該界面，再次點(diǎn)擊結(jié)果查看，可以進(jìn)入該界面。

（3）報(bào)告生成設(shè)置：點(diǎn)擊右上角的一致性測(cè)試，再點(diǎn)擊報(bào)告生成設(shè)置，可進(jìn)入報(bào)告設(shè)置界面，左側(cè)可填入有關(guān)的測(cè)試信息，也可不填。報(bào)告文件類型提供了三種文件格式：XML、HTML、PDF，用戶可根據(jù)需求選擇。